Veiga, A.D. Von Pinho, R.G. Resende, L.V. Von Pinho, E.V. de R. Balestre, M. Pereira, L.A. <br/><br/>
Quantitative trait loci associated with resistance to gray leaf spot and grain yield in corn 

<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>CERCOSPORIOSE<br/>DOENÇA DE PLANTA<br/>MILHO<br/>ANÁLISE ESTATÍSTICA